Thermo Fisher金屬光譜儀產品資料

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更新時間：2025-07-07

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Thermo Fisher金屬光譜儀產品資料
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ARL 4460 金屬分析儀集當今分析技術于一體，它采用了其技術電流控制光源（CCS）和時間解析光譜（TRS）技術，并與*特色的工廠校正曲線和自診斷功能相結合，將分析技術帶首*首*首*首*首*首先進入一嶄新天地。不但可以進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行常規分析，還可zui大限度地滿足金屬光譜分析工作者的各種復雜要求。耐久可靠的結構設計和制造工藝，確保儀器在各種惡劣環境下都具有的分析性能。
主要特點：
穩定、可靠的硬件
*的工廠校正曲線
的光譜制造技術
優秀的分析軟件
分析準確度更高、分析速度更快
分析痕量元素和氣體元素具有新的突破
分析范圍廣泛：適于分析鋼鐵、鋁、銅、鎂、錫、鉛、
鋅、純金屬、貴金屬等金屬材料
對操作人員無特殊要求
ARL4460比較ARL3460的功能、特點：
1.為了進一步提高分析速度和改善檢測限，尤其是對純金屬材料的分析（如超純銅、超純鋁等），ARL4460采用了電流控制光源和時間分辨光譜技術。ARL的4460能達到極低的檢測限并在低含量段的分析精度和可靠性具有一般其它光譜儀*的*性。CCS（電流控制光源）技術在美國和歐洲都獲得了。該技術采用了優選法，將長期積累的經驗以計算機的程序方式對不同的基體中的不同元素的激發狀態進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行*控制。另外采用TRS（時間分辨光譜）技術選擇首*首*首*首*首*首先進入射光被積分的*時刻、即“時間窗口”，避開火花積分的初始高峰電流所產生的背景，選擇緊隨高峰電流之后具有*信噪比的平穩電流階段（即窗口）作為積分時間段，從而進一步降低了檢測限，提高了靈敏度和分析精度。CCS和TRS這兩種技術的結合，使光譜分析提高到一個新的技術水平。
當用戶要分析超純銅、超純鋁等超純金屬時，4460具有其它儀器*的*性。尤其是在其低含量端的分析的可靠性及準確性是其它儀器很難做到。相比之下，有些儀器，雖然給出的定量范圍似乎很寬，能達到的低含量端甚至超過ARL4460的定量工作范圍。但由于這些儀器在低端采用直流電弧光源，由于該光源本身的不穩定性，從而使其儀器在低含量端的分析的不穩定（即重現性差）成為該儀器的“先天不足”的一大致命弱點，同時該儀器對S、P分析的不穩定性是它的另一“先天不足”所引發的致命弱點。
另外，在多基分析中由于基體之間的干擾因素，ARL4460的優勢沒有單基體、尤其是對單基體純金屬分析那么明顯。
2.ARL4460到目前為止尚無任何型號光譜儀能與其屬同一檔次。另外，其對小樣品分析的開發及精度保證值和小樣品工廠校正曲線到目前為止也是*的。ARL3460配有小樣品夾具，但沒有小樣品的精度保證值（一般直徑5mm以上的樣品測量精度接近標準樣品）及專門用以分析小樣品的工廠校正曲線，僅有標準樣品工廠校正曲線中的用以對小樣品分析的軟件。用戶要準確分析小樣品，在此基礎上，還需對不同尺寸范圍的小樣品有一段時間的摸索，從而得出一系列較準確的系數。ARL3460對絲材分析一般不小于3mm（極限值2.5mm）不規則的小樣品一般直徑不小于5mm。ARL4460可對各種不同形狀的樣品進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行分析，zui小直徑1mm。
3.ARL推出的在線單火花數據采集處理技術（On-Line Spark-DAT），通過與CCS，TRS等技術相結合，使ARL4460金屬分析儀具有更為廣闊的分析領域和應用前景。
Spark-DAT技術與傳統的光譜分析技術相比，她能采集樣品激發時的每一個火花信號并利用數學模式進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行處理，以獲取樣品組分的各種信息，如夾雜物、純凈度等，并能有效改善元素分析精度。該技術可用于以下幾個方面：
a.酸溶/酸不溶物分析
Spark-DAT技術通過對元素激發時獲取的火花強度分布進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行統計處理，用數學模式計算出酸溶/酸不溶物的含量。
b.材質的純凈度
由于Spark-DAT技術可通過軟件統計出各通道中不同強度的脈沖計數。低強度的脈沖信號代表該元素以固溶形式存在，高強度的脈沖信號則代表對應析出相形式，其脈沖計數值可用來表示材質的純凈度。因此Spark-DAT技術的應用，使現場隨時監控生產流程中各階段產物的純凈度變化成為可能，對工藝的改進有很強的指導意義。
c.夾雜物的分析
Spark-DAT技術的開發，使鋼中夾雜物的快速分析成為可能。通過對多個元素通道火花強度的同時紀錄，可以及時判斷出材質中的夾雜物組分，如Al2O3,TiN等，甚至可以獲得共存多元夾雜物組分信息，如Al2O3-CaO-MgO等。
d.元素分析精度的改善
Spark-DAT技術可改善元素成分的分析精度，尤其是對鋼中低含量的C,N，O等元素的分析。Spark-DAT技術可以通過軟件有效地過濾由沾污、漏氣等外界因素引起的異常信號，從而獲得理想狀態下的激發信號，大大改善C,N,O等元素的精度分析。

電流控制光源(CCS)
CCS 為火花發射光譜分析的樣品采集和激發過程提供了準確、穩定、連續的控制；Thermo通過對不同類型的金屬材料研究，開發出各種適合不同合金類型的*激發條件，從而獲得了*的分析靈敏度、精度、和zui短的分析時間。在火花放電過程中，預燃電流波形為樣品表面的微熔過程提供極大的“電流密度” ，從而能在極短的時間內達到均勻狀態。積分電流波形：（1）為樣品采集提供重現性*的峰電流；（2）為激發合金元素和痕量元素提供*的平臺電流。

時間分析光譜技術(TRS)
電流波形和每次放電 “時間窗口” （即光被積分的時間段）決定了每個元素的分析靈敏度。在電流波形中，選擇適當的TRS窗口位置，可以：（1）避開放電初始階段產生背景的高峰電流，（2）確定具有*信背比的平臺電流階段為積分時間段，從而獲得*的靈敏度和精度。另外，由于TRS的*數據采集功能，對某些元素而言，當分析波長和干擾波長之間存在一定的激發電勢差時可以明顯地改進痕量元素的校正曲線擬合的準確性。

CARL工廠校正曲線
依靠多年積累的標樣庫，每條曲線均由幾十塊標樣建立，比現場建立的分析曲線有更多的數據點。*的校正軟件，不僅可以修正光譜干擾，還可以扣除背景干擾，提高了分析結果的準確度，準確度（相對標準偏差）優于1％。節省了用戶購置標樣的費用。
CCS/TRS的結合
電流控制光源與時間分辨光譜技術的有機結合有效地改進了光譜分析的各種性能：準確度、檢測限、精度和分析時間。已經在工廠按*條件預置的CCS可以只選擇*的激發電流波形，以便zui大限度地提高靈敏度和精度，并縮短分析時間。每次激發過程中， TRS只接收對分析zui有用的信號部分，從而能夠改善準確度、精度和靈敏度。
火花數據采集處理系統SPARK-DAT(選擇項)
傳統的直讀光譜儀只能獲得金屬材料中元素信息。對于微區結構及元素間的化合方式通常由掃描電鏡來完成。搭載單火花數據采集處理技
術SPARK-DAT的ARL 4460金屬分析儀不僅可以進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行元素分析，還可以實現夾雜物分析。
這一技術主要用于：
相分析（如鋼中酸溶鋁和酸不溶鋁）
夾雜物分析鋼中夾雜物：如CaO, CaS
鋁中夾雜物：如TiB2, MgO
潔凈度分析
改善痕量元素的分析性能

WinOE分析軟件
在Windows® XP下運預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行的WinOE結合HTML Internet技術。用戶界面的改善使WinOE軟件的使用更加簡捷、方便。在線統計過程控制（SPC）軟件包對儀器和生產樣品進預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行監控。這種質量控制工具降低了生產成本，并節省大量時間。多種通訊方式滿足不同用戶的需要，可將分析結果傳至遠程打印機或顯示終端，甚至可將分析結果傳真、，或發送至手機。

WinOE軟件選擇項
在線Spark-DAT
ARLnet：LAN網絡結果傳輸軟件包
通過LAN網絡的遠程樣品定義
Sentry：樣品輸首*首*首*首*首*首先進入軟件
Compac：通過串預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行線將結果傳輸到遠程計算機
Remote：通過串預*要*預*要*預*要*預*要*預*要*預先進要先進行線將結果傳輸到遠程終端
DIA-Monitor：分析結果在遠程計算機上顯示
軟件
Exan：接收外部燃燒分析儀結果
Metaverage：分析平均
Charge：爐料修正計算
SPC-Full：全圖象統計過程控制軟件包
Report：以 Thermo 或用戶定義的格式
生成打印報告
DIA2000：分析結果數據庫和后處理軟件包

主要功能
圖形化的用戶界面實現導航、操作，通過Internet
Explorer瀏覽HTML頁面顯示
未知樣品的常規分析
通過軟件快捷方式，迅速進首*首*首*首*首*首先進入分析程序
自動分析程序選擇
多變量回歸，用于確定校正曲線
外部結果的手動輸首*首*首*首*首*首先進入
靈活的結果顯示和打印
質量檢查和質量分類
結果重新計算，避免不必要的樣品重新分析
結果貯存和簡單的后處理、輸出到Excel,Lotus等
在線SPC-Basic儀器控制
儀器標準化
類型標準化
通過儀器警報和狀態圖表顯示儀器控制結果
靈活的樣品定義
用戶權限的密碼保護
軟件和儀器配置工具

技術規格
光譜室設計：一米焦距，帕邢龍格裝置，真空型、恒溫控制（38 ±0.1° C), 特殊鑄鐵材料制造，zui多設置60條通道
試樣臺：充氬樣品臺；內置自循環水冷系統
光柵：根據分析任務，儀器配置以下三種光柵中的一種：1080gr/mm，1667gr/mm，2160gr/mm
分辨率：視光柵、出射狹縫和光譜等級而定
狹縫寬度：首*首*首*首*首*首先進入射狹縫：20µm；出射狹縫：25，37.5，50，75µm
光電倍增管：直徑φ28mm,10級側窗管，光學玻璃或人造石英窗
光源：電流控制光源（CCS）
光譜儀控制：利用CMOS 技術的 ARL MMB386微處理器，帶狀態控制卡；每條通道均配置數模（A/D）轉換器和衰減器；每個衰減器分為41 檔；測量電子部分的動態范圍與測量時間成正比，一般為2×106計數/秒
12位可編程衰減器
時間分辨光譜(TRS)
環境要求：室溫：16~30° C，zui大允許溫差為5° C/小時；相對濕度20~80%
電力要求：電壓230V（+10%/-15%），保護性接地的單相電源（電壓波動超過± 10%時需用5KVA穩壓器）。電流12A, 頻率50或60Hz;功率2.5kVA;接地電阻<1?，歐洲標準：89/392/EEC機械，73/23/EEC低壓材料，89/336/EEC電磁
氬氣要求：純度99.995%，zui大含氧量 5ppm（分析高Si 樣品時，zui大含量為 2ppm）流量3.5升/分（分析時），0.35升/分（待機時）
幾何尺寸：長1385（不計激發臺）×寬910×高1220mm；長1690（計激發臺）×寬910×高1220mm
系統重量：約540公斤
輔助設備：氬氣凈化器瓶裝氬氣配氣系統穩壓器制樣機